独立行政法人 産業技術総合研究所


クラブ長 計測標準研究部門 電磁波計測科 電磁界標準研究室 室長  黒川 悟




                   

                   
開催案内
第12回電磁界クラブ会合in愛媛
(共催:電気学会計測研究会)


【日 時】 2012年6月15日(金) 10:00〜16:15
【場 所】 愛媛県県民文化会館ひめぎんホール 第四会議室(松山市道後町2丁目9番14号,交通:JR松山駅下車 伊予鉄市内電車(道後温泉行)で約15分 南町・県民文化会館前で下車)詳細は次の URLをご参照下さい。 http://ecf.or.jp/himegin_hall/summary/index.html#access) 〔企画担当 田辺一夫(電力中央研究所),黒川 悟(産業技術総合研究所)〕
【共 催】
【協 賛】
一般社団法人 電気学会計測研究会
IEEE Society of Instrumentation and Measurement,Japan Chapter
【議 題】 テーマ「電磁波計測及び一般」

6月15日(金) 10:00〜10:50 「産業技術総合研究所NMIL電磁界クラブ講演」
座長 黒川 悟(産業技術総合研究所)
 
10:00~10:25  電界標準の開発
森岡健浩(産業技術総合研究所)
 
10:25~10:50  光学的ミリ波生成技術を用いたアンテナパターン測定システムの開発
飴谷 充隆(産業技術総合研究所)
 
6月15日(金) 11:00〜12:15 
座長 田辺一夫(電力中央研究所)
 
IM-12-022 距離3メータでの1GHzから6GHzでのダブルリッジドホーンアンテナのアンテナ係数と不確かさ評価
○廣瀬雅信,黒川 悟(産業技術総合研究所)
 
IM-12-023 光ファイバリンク超広帯域アンテナの開発とそれを用いた放射EMI比較測定
○黒川 悟,飴谷充隆,廣瀬雅信(産業技術総合研究所)
 
IM-12-024 簡易電波暗室におけるSite VSWR測定結果と擬似被試験機器を用いたEMI測定結果との比較
○藤本正克(山口県産業技術センター),川畑将人(福岡県工業技術センター),尾前 宏(鹿児島県工業技術センター),石松賢治(熊本県産業技術センター),飴谷充隆,黒川 悟(産業技術総合研究所)
 
6月15日(金) 13:30〜14:45 
座長 作田幸憲(日本大学)
 
IM-12-025 電源周波数帯における交流磁界センサの校正と国際整合性の検証
○石居正典,黒川 悟,島田洋蔵(産業技術総合研究所)
 
IM-12-026 超低磁場MRI計測に向けた磁気共鳴信号増強のための磁場解析
◎改正清広,小林哲生(京都大学)
 
IM-12-027 多層膜からの電磁波パルスの反射解析と欠陥検出への応用
○福地哲生(電力中央研究所)
 
6月15日(金) 15:00〜16:15 
座長 廣瀬雅信(産業技術総合研究所)
 
IM-12-028 ミリ波帯チューナブルフィルタの試作評価
◎河村尚志,大谷昭仁(アンリツ)
 
IM-12-029 同調形マイクロストリップライン共振器を用いた高周波水晶振動子の共振周波数測定の評価
○作田幸憲,渡邉充紘,今池 健,関根好文(日本大学)
 
IM-12-030 CARSを利用した水素ガスリークの検知
◎杉本幸代,二宮英樹,朝日一平(四国総合研究所),福地哲生(電力中央研究所)
1件当り 25分(質疑応答 5分を含む)
 

【申し込み】 以下の必要事項をご記入いただき、5/27(日)までに
        電磁界クラブ事務局(担当・関川)h-sekikawa(a)aist.go.jpまでお送りください。
        (迷惑メール防止のため@を(a)にしています)

       ・氏名
       ・所属
       ・電話番号
       ・メールアドレス





電磁界クラブのアーカイブはこちら※EMI用電波暗室の測定マニュアルはこちらです。



                          電磁界クラブへの入会登録
                              (入会・年会費等は無料です)


                            登録内容の変更退会のご連絡
                             NMIJ計測クラブ事務局
                               E-mail nmijclub@m.aist.go.jp
                            TEL:029-861-4957 FAX:029-861-4190




NMIJ計測クラブホームページへ



Copyright (c) 2003 National Metrology Institute of Japan. All right reserved.